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應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因

本研究重點在於改善晶片缺點,增加晶片良率. 主要是計算晶片揀選良率,其計算方法主要是將功. 能良好的晶片粒除以晶圓上的晶片粒。 在國內關於以半導體產業以及良率為 ...

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