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晶片 良率計算
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【PAT】part average testing[零件平均测试] - 台部落
由于需要重新计算这些限制(在某些情况下,基于晶片之间的差异),因此像yieldWerx Enterprise这样的复杂的良率管理系统可简化确保合规性的过程。
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