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【半導體良率計算】CN102110584A-一种获得生产... +1 | 健康跟著走

[0006]进一步地，所述计算出芯片一个或多个功能区域的致命缺陷率的公式为:. ,2019年8月23日— 8月22日，網絡傳聞「三星因發生良率事故導致高通5G晶片全部報廢」上了熱搜。 .

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