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明新科技大學97 年度校內專題研究計畫成果報告

1) 可量化: 此種績效指標可用簡單明瞭的單位來計算。 ... 全廠產出的晶片良率(Chip probing yield): 經探針測量後為良品的總晶片數/全廠. 總晶片數。 2) 產品週期：.

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