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晶片 良率計算
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TSMC 5nm 測試晶片良率已達80%:明年上半年大規模量產
當然,現代高性能晶片面積都相當大,比如麒麟990 5G達到了113.31平方毫米。 按照一顆晶片100平方毫米計算,1.271個每平方厘米的缺陷意味著良品率為32%, ...
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