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應材、科磊與漢微科爭鋒 - Yahoo奇摩

科磊昨日在科技論壇中宣布推出採用NanoPoint技術的光學晶圓缺陷檢測平台及新型eDR-7100電子束晶圓缺陷檢查系統。科磊兩此大平台可以相互支援，可以迅速 ...

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