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61190384:稅則預先審核案例

tf_hs_e_reason, 本案貨品參據所檢附相關資料，為「光罩缺陷檢測儀」，包含固態雷 ... cnote, 供檢查半導體晶圓或裝置或供檢查製造半導體裝置所使用之光罩或網線之光學 ...

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