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CTIMES/SmartAuto - 應材推出新款晶圓缺陷檢測系統

半導體製程設備供應商應用材料宣佈推出晶圓缺陷檢測系統UVision，該系統是半導體業第一台雷射3D明視野（brightfield）檢測系統，主要針對65奈米或更 ...

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