你即將離開本站

並前往https://www.airitilibrary.com/Publication/alDetailedMesh?docid=U0009-0112200611291804

區間神經網路應用於半導體晶圓缺陷辨識及良率估計之設計

半導體的研發是我國經濟發展及提昇的重點科技之一，但由於產品製造之複雜度的提昇，使得晶圓經常有不良的情形發生。目前半導體產業對於不良晶圓的檢測大部份仍是以人工 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「晶圓缺陷檢測」的人也找了：

  1. Wafer defect
    2.
  2. 半導體缺陷
    3.
  3. 半導體缺陷分析
    4.
  4. 晶圓檢測
    5.
  5. COP wafer
    6.
  6. 晶 圓 缺 角
    7.
  7. 晶 圓 Particle
    8.
  8. 半導體defect
    9.