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製程中晶圓外觀檢查系統Model 7945 - Chroma ATE

雙面檢測(切割後晶圓); 異色缺陷檢測; 可選擇不同倍率及檢測項目以因應不同應用，例如VCSELs、PDs、LEDs、或離散元件(Discrete Devices); 支援多電腦檢測以縮短處理 ...

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