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晶圓檢測系統Model 7940 - Chroma ATE

Chroma 7940晶圓檢測系統為自動化切割後晶粒檢測設備，使用先進的打光技術，可以清楚的辨識晶粒的外觀瑕疵。結合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得7940可以適用 ...

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