外觀檢驗﹙共同標準﹚ 檢驗項目 說 明 圖 示 缺點等級 晶粒厚度 同一晶片晶粒厚度差≦2 mil UR同一晶片晶粒厚度差≦3 mil MA 正面電極 電極中心點1/3半徑範圍內,不得 ...
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