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供高速鎖相迴路應用之內建式量測平台研製

當這些電路被改良且完成下線製成IC晶片之後，需經精密硬體量測程序，才能評測出該鎖相位電路各方面的電氣效能。可是因為數位IC高速需求，在動輒好幾個GHz的工作頻率下 ...

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