22-3 非接觸式掃瞄作用力顯微鏡法(NC-SFM)—磁力/靜電力顯微鏡法(MFM/EFM))非接觸式 ... 改變(分列式光偵測器之偵測原理請見22-2-2節及圖 22-4b),而這位置改變即可反應 ...
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