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奈米化後產品的分析 - 宜蘭大學食品科學系

掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM） ... SEM影像景深主要取決於聚焦電子束的發散程度（Divergence），發散程度越小則景深越佳，故可減小物鏡光圈 ...

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