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掃瞄式電子顯微鏡

由於穿透式電子顯微鏡試片製作繁複，儀器操作複雜，且樣品的真實感較低，為改善這些缺點，遂有掃瞄式電子顯微鏡〈scanning electron microscope, SEM〉的誕生。

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