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掃描電子顯微鏡- 維基百科，自由的百科全書

掃描電子顯微鏡 （英語：Scanning Electron Microscope，縮寫為SEM），簡稱掃描電鏡，是一種電子顯微鏡，其通過用聚焦電子束掃描樣品的表面來產生樣品表面的圖像。

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