第二年以IC串聯感應耦合電漿原子發射光譜儀(ICP-OES)或感應耦合電漿原子質譜儀(ICP-MS),進一步定量分析不同核種(I、Se、Tc)之穩定同位素最低偵測濃度,並以ASTM批 ...
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