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具動態密鑰之高安全性晶片測試技術

本技術提出一種高安全性之晶片測試架構防護技術，可以在測試時以動態方式產生密鑰，在不降低系統性能和可測試特性的情況下，本技術可有效抵禦針對掃描鏈和記憶體的攻擊 ...

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