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XRF分析儀使用X射線熒光進行材料厚度 - Bowman XRF

大多數X射線具有0.01至10奈米的波長，如圖1所示，頻率從低到高佈置。 ... 但直到1923年美國物理學家亞瑟·康普頓（Arthur Compton）發現了X射線散射，人們對愛因斯坦的 ...

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