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實驗室SEM-EDS組合分析技術, 如何對樣品進行表面異物分析
掃描電子顯微鏡(SEM)應用於斷口分析、相的析出和發布特徵分析、元素分布行為分析、結構分析等。X射線能譜儀(EDS)則通過高能電子束照射樣品產生X射線,通過不同元素 ...
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