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超高解析場發掃描式電子顯微鏡- 桃園 - 中原大學研究發展處

簡稱. FE-SEM. 英文名稱. Field-emission scanning electron microscope. 功能說明. 接收由物體表面經由外加高能電子撞擊後所釋出的電子作為呈像之依據，具深景深的 ...

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