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四點探針面電阻值測試系統 - Pegasus

可選配不同探針、樣品測試平臺等選件，符合不同器件測試應用. 適用於4”以下晶圓測量. 適合於科研/研發器件特性分析. 應用. LED晶圓及晶片之光電特性分析.

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