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四點探針4 Point Probe - 國立中山大學光電工程學系

基板上成長一單層薄膜為最佳試片結構；需準備純基板以建構基板NK-file。 3. 鍍膜之不均勻將大幅增加量測難度。 注意事項：預約前請先打電話詢問是否有KEITHLEY及電腦 ...

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