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四點探針量測儀
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霍爾效應測試儀 - 元智機械系
可用於確認半導體薄膜電特性,如載子濃度、移動率、電阻率及霍爾係數等。本系統配備電流電壓量測功能以確認試片歐姆接點特性。主要利用Van Der Pauw 四點探針法和霍爾 ...
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「四點探針量測儀」
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