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CN1628251B - 用于多点探针的电反馈探测系统- Google Patents

[0009] 确定测试样品的表面电阻率，其中V是测得的电压而I是施加的电流，并且其中c是由四点探针的电极间距和测试样品的尺寸确定的几何因子。图2(b)示出了连接到该四点探针的 ...

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