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原子力顯微鏡（AFM） | 用於粗糙度量測的機器 - KEYENCE

量測壓電材料掃描器位移量的方法，一般是用雷射光照射懸臂背面，光束被反射後，再用四象限（或二象限）光電二極體檢測反射光。 優點, 缺點. - 解析度（區分兩點的最小距離 ...

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