儀器性能:. 1. 德國Bruker D8 QUEST. 2. X 光產生器Iμs 3.0,功率70 W. 3. 偵測器種類:CPAD 偵測器(PHOTON III). 4. 測量單晶繞射數據,用以解析晶體結構(晶體.
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