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國立交通大學工業工程與管理學系碩士班碩士論文

缺陷檢測是一個品管很重要的過程，傳統的晶粒表面缺陷檢測通常是目視檢測， ... 連通成分(Connected Component)是對任何的前景像素，滿足像素間相鄰且具.

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