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探针式轮廓仪（台阶仪） | Bruker

Dektak 探针式轮廓仪（台阶仪）已被广泛接受为薄膜厚度、应力和表面粗糙度测量的卓越解决方案，适用于从教育研究验证到半导体过程控制等各种应用。

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