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晶圓級可靠度(WLR) - Wafer Testing - 旺矽科技股份有限公司

晶圓級可靠度（WLR）係元件在特定狀態下經過一定時間測試後，其電性規格仍保持高一致性之能力。積體電路完成設計且初版晶矽製作完成後，便會進行晶圓級可靠度（WLR） ...

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