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晶圓級可靠性測試| WLR | Wafer Chucks | 熱夾頭| 探針台

高可靠度、由高溫載台、控制器及冷卻器所組成之熱能系統，以及穩固、可精準下針的探針台系統（TS150、TS200、TS300），皆是長時間進行晶圓級可靠度測試、以及降低整體測試 ...

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