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光學薄膜厚度量測儀-宏明科技有限公司 - 智慧顯示展覽會

量測 功能: 薄膜厚度、反射率、色度系統模式: 反射式光纖或反射式積分球（8/D, D/8Selective） 波長範圍: 400-850nm 量測膜厚範圍: 300-400,000 Angstrom

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