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全光譜反射式膜厚量測儀(Reflectometer) - 陽明交通大學奈米中心

可量測三層膜. (4).內建資料庫提供約100組折射率n及消光系數k值. (5).可設立多種不同型態座標. (6).進行多點全自動量測. (7).由十字標校正確保反射率標準片與待測樣品 ...

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