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光譜膜厚量測系統 - 波色科技

利用光譜儀量測樣品反射干涉光譜訊號，以獲取薄膜厚度、折射率、消光係數、穿透率、反射率及色度...等材料參數，即便在震動環境下，仍可獲取準確，適用於產線In-line ...

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