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薄膜量測標準 - 材料世界網

中，對薄膜厚度標準片校正之系統評估，此一校正系統提供二氧化矽薄膜厚度範圍為10~200nm之追溯校. 正服務。 ... 由單位為度的δθg與δθa來推估單位為nm的u(δg).

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