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銀膠種類及厚度對構裝後晶片可靠度的影響
構裝後的半導體元件進行吸濕及去濕能力、迴焊試驗及可靠度測試,並探討銀膠厚度對 ... 現今有關產品可靠度的定義:一般多以1952 年由美國國防部所成立的電子裝備可靠度 ...
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