你即將離開本站

並前往http://www.etop.org.tw/index.php?c=adm11252&d=adm&i=134060

成果報告資料顯示 - 工程科技推展中心

而光學微影技術因使用光波長之限制，如何有效在半導體基板上定義出微小精準的圖 ... resolution criterions: CD=k1λ/NA and DOF = k2λ/NA2, where λ is the wavelength ...

確定！ 回上一頁

查詢 「半導體cd定義」的人也找了：

  1. 半導體cd量測
    2.
  2. ADI AEI ASI
    3.
  3. 半導體cd值
    4.
  4. 半導體線寬定義
    5.
  5. 半導體 layer
    6.
  6. cd sem量測原理
    7.
  7. ocd vs cd-sem
    8.
  8. Hitachi CD-SEM
    9.