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半導體業瑕疵檢測解決方案，克服AOI檢測難題 - SOLOMON 3D

傳統光學檢測AOI無法利用撰寫邏輯的方式偵測角度、位移偏差及缺漏等半導體瑕疵，時常造成半導體檢測的漏檢、誤判、錯誤定位，影響封裝產線生產效率。

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