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半导体ATE测试设备，一个被忽视的落后领域 - 电子工程专辑

半导体 测试设备主要包括三类：ATE、探针台、分选机。其中测试功能由测试机实现，而探针台和分选机实现的则是机械功能，将被测晶圆、芯片拣选至测试机 ...

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