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半導體 測試原理
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晶圓測試探針卡設計與製造 - 機械工業網
摘要:開發高階新興半導體產品量產測試所需的探針卡,提昇針測能力(數量與速度)是維持台灣半導體測試產業競爭力之關鍵。CIS影像感測器是最具潛力與 ...
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