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2006 年全球陣列檢測設備市場概況(上) - 金屬工業研究發展中心

在進行檢測Array 任何功能前，通常是給予TFT ㆒驅動訊號，藉以判. 斷電晶體元件的動作是否正確，而此過程大多是已經接㆖驅動電路. (Drive IC)後，才能進行確認。Array ...

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