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微纳米金属烧结体电阻率测试方法四探针法

以凯尔文电桥原理的四探针法测定，避免测量中引线电阻、接触电阻的 ... 本文件规定了第三代半导体器件封装用微纳米金属烧结体的电阻率测试方法。

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