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IC测试基本原理与ATE测试向量生成 - 电子工程世界

集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大， ...

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