你即將離開本站

並前往https://blog.csdn.net/qq_37754056/article/details/121691881

ATE 测试及IC测试原理之OS测试 - CSDN博客

OS测试原理Open-Short Test 也称为ContinuityTest 或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「半導體 測試原理」的人也找了：

  1. 半導體測試概論
    2.
  2. 半導體測試聖經
    3.
  3. 半導體測試流程
    4.
  4. open short test原理
    5.
  5. 半導體測試概論pdf
    6.
  6. ic測試項目
    7.
  7. 半導體測試課程
    8.
  8. 半導體測試公司
    9.