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半導體業瑕疵檢測解決方案

半導體 晶片封裝製程，執行上對於速度與精準的要求極高。傳統光學檢測AOI無法利用撰寫邏輯的方式偵測角度、位移偏差及缺漏等半導體瑕疵，時常造成半導體檢測的漏檢、 ...

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