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一种测量半导体薄膜材料塞贝克系数和电阻率的装置 - Google

对电阻率的测量我们采用经过改进的两探针法，其计算公式为ρ=Rf·Us·w·hl·Ur]]>(式2)式中，Rf为参考电阻，l、w、h分别为薄膜长 ...

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