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空穴迁移率测量- 飞行时间法;半导体;载流子成像 - 东谱科技

瞬态光电流测量，电子迁移率测量，空穴迁移率测量，二维平面的成像，水平载流子迁移率测量，广泛适用于硅基半导体、第三代宽带隙半导体、有机半导体、钙钛矿半导体、 ...

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