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Chapter 10 化學氣相沉積與介電質薄膜 - PDF4PRO

CVD製程發生在大氣壓力常壓下. • APCVD 製程用在沉積二氧化矽和氮化矽. • APCVD臭氧—四乙氧基矽烷(O. 3. -TEOS). 的氧化物製程被廣泛的使用在半導體工.

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