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半導體新創「埃爾思」連獲SBIR補助及天使投資

隨著半導體製程演進，電晶體密度一再提高，如何找到晶片中的失效位置以進行故障分析成為一大難題。目前常見的方式，是先用奈米探針量測（Nano ...

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